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Antaris II傅立葉變換近紅外(FT-NIR)光譜儀

Antaris II傅立葉變換近紅外(FT-NIR)光譜儀

Antaris II傅立葉變換近紅外(FT-NIR)光譜儀系統(tǒng),該儀器具備實驗室研究級近紅外儀器所要求的性能,能夠適應工業(yè)操作環(huán)境。該儀器和技術的成功應用將為企業(yè)成倍提高工作效率、節(jié)省大量日常常規(guī)樣品檢測成本。

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商品描述

Antaris II傅立葉變換近紅外(FT-NIR)光譜儀系統(tǒng),該儀器具備實驗室研究級近紅外儀器所要求的性能,能夠適應工業(yè)操作環(huán)境。該儀器和技術的成功應用將為企業(yè)成倍提高工作效率、節(jié)省大量日常常規(guī)樣品檢測成本。


技術參數(shù):
1. 一臺儀器可同時集成透射、反射、漫透射、光纖探頭等檢測模塊,樣品可以方便得到快速檢測分析
2. 采用Nicolet高光通量高速動態(tài)準直電磁式干涉儀
3. 采用CaF2分束器,在近紅外光譜區(qū)域內具有更高的能量分布
4. 各個分析模塊均采用對近紅外光靈敏度高的InGaAs檢測器
5. 儀器與電腦間采用標準接口
6. 低使用和維護成本